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        光致荧光葫芦娃污APP测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）葫芦娃污APP仪；MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm（5.5eV）或248.6nm（5eV）作为激发光源，配合*的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。

主要规格特点：

■ 采用5.5（224nm）或5.0 eV（248.6nm）深紫外激光器

■ 室温PL葫芦娃污APP测量范围：190~650nm（标准），190~850nm（选配）

■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光栅，标配），

                    0.07nm（@3600g/mm光栅，选配）

■ 门闸积分平均器（Boxcar）进行微弱脉冲信号的检测

■ 可实现量子效率测量

■ 基于LabView的界面控制

■ 葫芦娃污APP分析软件可获得葫芦娃污APP带宽、峰值波长、峰值副瓣鉴别、葫芦娃污APP数据运算、归一化等

■ 大可测量50mm直径样品，样品可实现XYZ三维手动调整（标准）

■ 可选配自动样品扫描装置，实现Mapping功能

■ 可用于紫外拉曼葫芦娃污APP测量

■ 高度集成化，体积：15 ×18  × 36cm，重量：<8kg

型号	规格描述
MiniPL 5.0eV	NeCu激光器（248.6nm）,三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm），驱动及软件；
MiniPL 5.5eV	HeAg激光器（224.0nm） ,三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm），驱动及软件；
升级选项
光电倍增管选项	升级为190-850nm
光栅选项	增加第二块光栅（3600g/mm）
Mapping功能选项	升级为X-Y自动扫描样品台
低温制冷选项	4K，6.5K，10K低温制冷样品室，低震动设计，振幅小于5nm （选配低温选项时不能同时进行Mapping测量）

 AlGaN光致发光葫芦娃污APP及PL Mapping葫芦娃污APP（含3D图谱），样品尺寸：直径50mm（样品由客户提供）